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检测开关使用中可能出现的故障

关键词:故障 发布时间:2017-05-08 10:45:17 点击:
    1. 使用初期的故障  
    以光电开关、接近开关等为主体的检测开关,半导体一般会在使用初期发生故障。
    其原因是使用在回路中的半导体,在制造中受到种种应力而导致在使用开始后的短期内发生破损;另外,功率比半导体低的电阻、电容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的发生时间,根据制造方法的不同而不同,不能一概而论,一般多发生在使用开始后的一星期到10天内。
    2. 偶发故障
    包括由于半导体部件的不良而引起的故障,电阻、电容的断线、短路、容量不足,电路板的电路断裂、带焊料等的不良现象,但发生率极低。接近开关经常发生故障时,可以考虑为使用环境的问题,可向硕方询问相关。

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    3. 负荷短路与配线错误
    由于配线错误或带电作业引起负荷短路时,导致大电流流向检测开关,输出回路烧毁。作为在检测开关外进行的保护对策,可使用切断快速熔断器短路电流的方法,通过熔断器进行保护,不仅可保护负荷短路,还对地线有保护作用。但是,由于开关内的输出晶体管的残余容量小,达不到100[%]的效果。
    4. 干扰波导致的破损
    由干扰波带来的破损是慢慢形成的,因此在开始使用后的一个月或二三个月后发生破损是极其普通的。因此,在该期间发生破损时,其原因则可判断为干扰波。电感负载开闭时发生的检测开关的瞬间错误动作是由干扰波造成的。
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